即使相同的涂層測厚儀，不同的人或?qū)Σ煌N類、狀態(tài)基材上的相同涂層測量出來的數(shù)據(jù)也可能會存在較大差別，這是因為測量人員因素、測量漆膜的基體材質(zhì)、厚度、表面狀況以及測量位置等造成的。因此，在使用測厚儀檢測涂層厚度時，不僅操作方法要正確，還需要針對具體基材進行調(diào)整。

使用前應仔細閱讀儀器使用說明書

不同廠家、不同品牌的儀器在結構、按鍵、校準等方面各不相同，因此使用前需要先仔細閱讀儀器的使用說明書，避免誤操作造成測量數(shù)據(jù)的錯誤。

注意金屬基體材質(zhì)

不同金屬基體材料的磁性、導電率是不相同的，這都會對測量結果造成影響[9]。采用磁性法測厚受基體金屬磁性變化的影響（在實際應用中，低碳鋼磁性的變化可以認為是輕微的），為了避免熱處理和冷加工因素的影響，應使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標準片對儀器進行校準，亦可用待涂覆試件進行校準。由于基體金屬的成分及熱處理方法不同，導致其電導率不同，因此應使用與被檢測試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標準片對儀器進行校準。

注意檢測試件形狀

在實際生產(chǎn)中，工件的材料厚度、形狀、表面粗糙度等存在差異，這些差異會對實際測量結果造成影響。每一種儀器都有一個基體金屬的臨界厚度，大于這個厚度，測量就不受基體金屬厚度的影響，如果試件材料厚度小于儀器所要求的臨界厚度，檢測結果就會與實際厚度有差別。一些儀器對試件表面形狀的陡變十分敏感，因此在靠近試件邊緣或內(nèi)轉角處進行測量的數(shù)值會不可靠，實際測量時應選擇遠離邊緣和內(nèi)轉角的部位。試件表面不僅存在形狀的陡變，還可能存在不同的曲率，一些儀器的測量結果總是隨著曲率半徑的減小明顯地增大。因此，即使在選擇儀器時考慮了最小曲率半徑，測量時仍應盡可能選擇在平面部位進行測量。

以上也是在選擇測厚儀器時需要考慮最小曲率半徑、最小測量面積、最小基體厚度的原因。

另外，實際生產(chǎn)中，不同工件的表面粗糙度也不盡相同。粗糙程度越大，對一些儀器的測量結果影響越大。粗糙表面會引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差，每次測量時，在不同位置上應增加測量的次數(shù)，以克服這種偶然誤差。這一點，很多廠家的儀器使用說明書里都沒有指出。我們分別用國產(chǎn)和進口測厚儀在平面上校準后測量拋丸后的表面，讀數(shù)在10 ~ 30 μm 不等。也就是說，如果按此方法，測量出來的數(shù)據(jù)比漆膜的實際厚度會大10 ~ 30 μm，即漆膜實際厚度達不到設計要求。因此，如果基體金屬粗糙，還需要在未涂覆的粗糙度相類似的基體金屬試件上取幾個位置來校對儀器的零點；或用對基體金屬沒有腐蝕的溶液溶解除去涂層后，再校對儀器的零點。當然，當漆膜厚度為基材表面粗糙度的5 ～ 6 倍時，可以將粗糙度忽略。總之，儀器的校準需要依據(jù)現(xiàn)場被涂工件表面粗糙度來進行。

檢測環(huán)境

周圍各種電氣設備所產(chǎn)生的強磁場，會嚴重地干擾磁性法測厚工作，使用時應盡量遠離強磁場環(huán)境。

操作

一些儀器對那些妨礙測頭與漆膜表面緊密接觸的附著物質(zhì)比較敏感，因此，需要清除附著物質(zhì)，進而保證儀器測頭和被測試件表面直接接觸。測頭放置到試件上所施加的壓力大小會影響測量的讀數(shù)，因此，要保持壓力恒定。測頭的放置方式對測量也有影響，在測量中，應當使測頭與試樣表面保持垂直。另外，通常儀器的每次讀數(shù)并不相同，因此需要在每一測量面積內(nèi)多讀取幾個數(shù)。漆膜厚度的局部差異，也要求在任一給定的面積內(nèi)進行多次測量，表面粗糙時更應如此。